ANÁLISE DAS PROPRIEDADES DOS FILMES DE CdS PARA JANELA DE CÉLULAS SOLARES DE CdS/CdTe
DOI:
https://doi.org/10.59627/cbens.2008.1477Palavras-chave:
CdS, CBD, células solares, filmes finosResumo
Filmes finos de CdS foram obtidos pela técnica de deposição por banho químico (CBD). O volume dos reagentes e a temperatura da deposição foram variados com o intuito de obter os melhores parâmetros desta técnica de deposição. Os filmes depositados foram analisados utilizando as técnicas de microscopia eletrônica de varredura (MEV), difração de raios X com incidência rasante (GIXRD), interferometria e espectrofotometria óptica. Foi observado que o aumento da temperatura de deposição deu origem a filmes mais contínuos e com melhores propriedades ópticas. O aumento da concentração dos reagentes e da temperatura deu origem a filmes mais espessos.
Downloads
Referências
Bilgin, V., Kose, S., Atay, F., Akyuz, I. Materials Chemistry and Physics 94, 2005, 103–108.
Fernandes, J.A.S.; Pinheiro, W.A.; Bortolini, M.; Alves, R.M.P.; Mattoso, I.G. ; Ferreira, C.L.; Cruz, L.R., Otimização dos parâmetros no processo de deposição. Anais do I Congresso Brasileiro de Energia Solar, 2007, Fortaleza.
Kazmerski L. L. Renewable and Sutainable Energy Reviews, v. 1, n.1/2, 1997, 71-170.
Lee, J. Applied Surface Science 252, 2005, 1398-1403.
Maliki, H.E., Berne`De, J.C., Marsillac, S., Pinel, J., Castel, X., Pouzet. J. Applied Surface Science 205, 2003, 65–79.
Oliva, A. I., Castro-Rodriguez, Solis-Canto, O., Vítor So sa, Quintana, P., Peña, J.L. , Applied Surface Science 205,
, 56-64.
Rusu,M., Rumberg, A., Schuler, S., Nishiwaki, S., Wurz, R., Babu, S.M., Dziedzina, M., Kelch, C., Siebentritt, S., Klenk, R., Schedel-Niedrig, Th, Lux-Steiner, M.Ch.. Journal of Physics and Chemistry of Solids 64, 2003, 1849–1853.
Sasikala, G., Thilakan, P., Subramanian, C. Solar Energy Materials & Solar Cells 62, 2000, 275-293.
Soundeswaran, S., Senthil-Kumar, O., Dhanasekaran, R. Materials letters 58, 2004, 2381-2385.
Stoev, M.D., Touskova, J., Tousek, J. Thin Solid Films 299, 1997, 67-71.
Ulrich, B., Tomm, J.W., Dushkina, N.M., Tomm, Y., Sakai, H., Segawa, Y. Solid State Communications 116, 2000, 33-35.
Vigil, O., Arias-Carbajal, A., Cruz, F., Contreras-Puente, G., Zelaya-Angel, O. Materials Research Bulletin 36, 2001, 521-530.
Weeb, J.D., Rose, D.H., Niles, D.W., Swartzlander, A. E Al-Jassim, M.M. FTIR, EPMA, and XPS analysis of impurity precipitates in CdS films. Presented at the 26 th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, September, 1997, Anaheim, California.
Wenyi, L., Xun, C., Qiulong, C., Zhibin, Z. Materials Letters 59, 2005, 1-5.