UTILIZAÇÃO DE EMISSORES POUCO DOPADOS NA CARACTERIZAÇÃO DE LÂMINAS DE SILÍCIO
DOI:
https://doi.org/10.59627/cbens.2007.1708Palavras-chave:
Medida de tempo de vida, Fotocondutância, Passivação de superfícies, Caracterização do material, Corrente de recombinação do emissorResumo
Este trabalho tem como objetivo principal a qualificação do silício utilizado como substrato na fabricação de células de solares, através da técnica do decaimento fotocondutivo (técnica amplamente empregada nos setores de pesquisa e produção industrial deste tipo de dispositivos).
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