AVALIAÇÃO DA SUJIDADE EM MÓDULOS FOTOVOLTAICOS EM MINAS GERAIS, BRASIL

Resumo

O desempenho de módulos fotovoltaicos vem sendo cada vez mais discutido, visando identificar medidas com o potencial de promover melhorias para a tecnologia. Diferentes variáveis influenciam no desempenho do fotovoltaico, como por exemplo as condições meteorológicas, mas outro fator vem sendo discutido em diferentes literaturas por possuir elevado impacto na eficiência dessa tecnologia: a sujidade. Nesse trabalho é apresentada a metodologia para quantificar a perda por sujidade em módulos fotovoltaicos de filme fino de telureto de cádmio (CdTe) e silício policristalino (p-Si) através de medições realizadas em estações de sujidade de monitoramento instaladas em Belo Horizonte, Minas Gerais. Os parâmetros elétricos medidos dos módulos fotovoltaicos são comparados com dados de precipitação coletados no mesmo local, com o objetivo de avaliar o comportamento da taxa de sujidade ao longo de períodos secos. Além disso, a taxa de sujidade para dados de corrente de curto-circuito (SRIsc) e de potência máxima (SRPmax) dos módulos foram avaliados e comparados, caracterizando o efeito potencial de deposição de sujidade uniforme ou não-uniforme. Os resultados mostraram proximidade entre as curvas de taxa de sujidade para corrente e potência, indicando uniformidade da deposição de sujidade sobre os módulos fotovoltaicos. A aplicação dessa metodologia permitiu identificar taxas médias de sujidade para tecnologia de telureto de cádmio de aproximadamente 0,88 e 0,87 para corrente de curto-circuito e potência máxima, respectivamente, enquanto para o silício policristalino essa taxa foi de 0,91 e 0,89. Estes dados mostram que sujidade possui maior impacto sobre o fotovoltaico de telureto de cádmio, como consequência da diferença da largura da banda gap em relaçao ao silício cristalino.