MÉTODOS DE DIAGNÓSTICO DE FALHAS PARA ARRANJOS FOTOVOLTAICOS
DOI:
https://doi.org/10.59627/cbens.2018.217Palavras-chave:
Métodos de Diagnóstico de Falhas, Curva Característica I-V, Arranjo FotovoltaicoResumo
Os custos operacionais e a confiabilidade a longo prazo são fatores chaves para a redução do custo total de vida útil de um sistema fotovoltaico. Neste contexto, os métodos de caracterização e diagnóstico são cada vez mais importantes na identificação e compreensão das falhas e modos de degradação que afetam os módulos e arranjos fotovoltaicos assim como o desenvolvimento de novas ferramentas e testes para avaliar a confiabilidade e a vida útil dos módulos FVs. As curvas características I-Vs podem fornecer diversas informações sobre a condição e propriedades elétricas de geradores FVs, por exemplo, corrente de curto-circuito, tensão de circuito aberto, “fill-factor”, resistência série e paralelo, fator de idealidade equivalente do diodo além de indicar a presença de sombreamentos e poeira/sujidades. Este trabalho propõe dois métodos de diagnóstico de falhas para sistemas fotovoltaicos, ambos são baseados na técnica de caracterização da curva característica I-V. O primeiro método baseia-se na técnica da derivada segunda / mínimos quadrados da curva I-V enquanto o segundo, utiliza a análise espectral da potência. Os resultados preliminares encontrados mostraram serem satisfatórios e promissores para a detecção de falhas em sistemas fotovoltaicos.Downloads
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Publicado
2018-12-01
Como Citar
de Carvalho, D. P., Monteiro, L. G., Horta, L. B. P., & Buiatti, G. M. (2018). MÉTODOS DE DIAGNÓSTICO DE FALHAS PARA ARRANJOS FOTOVOLTAICOS. Anais Congresso Brasileiro De Energia Solar - CBENS. https://doi.org/10.59627/cbens.2018.217
Edição
Seção
Conversão Fotovoltaica - Controle e monitoramento de sistemas fotovoltaicos