ANÁLISE DA DEGRADAÇÃO INDUZIDA POR POTENCIAL EM MÓDULOS FOTOVOLTAICOS DE SILÍCIO CRISTALINO

Resumo

Este trabalho tem por objetivo analisar a Degradação Induzida por Potencial (PID) no desempenho de módulos fotovoltaicos de tecnologia de silício cristalino, fenômeno relatado em centrais elétricas de médio e grande porte que costumam operar com tensões mais elevadas. A metodologia adotada no LABSOL UFRGS utiliza um simulador solar para a caracterização elétrica e uma câmera fotográfica convencional adaptada para captar a emissão eletroluminescente. Dois módulos de fabricantes distintos foram submetidos a uma tensão de 1kV por 7 dias, examinados e depois submetidos à tensão outra vez com a polaridade invertida. No primeiro período ocorre PID e no segundo regeneração. As curvas I-V, imagens de eletroluminescência e os histogramas decorrentes das imagens mostram diferenças significativas da intensidade de degradação dos dois módulos utilizados como exemplo.